Recherche:Méthodes de détermination de la ou des relations possibles entre des phénomènes échantillonnés/Tableaux de correspondance
Apparence
- Lors des analyses de y et de x, on détermine les xi, xp, yi, yp, donc la nature de ou des fonctions qui lient x et y ainsi que les coefficients Ki, Kp, les retards et les facteurs de proportionnalité.
- Les premiers cas de figure sont évidents et peuvent être trouvés par d'autres moyens. Ils permettent de comprendre la méthode et les situations plus complexes.
Variable d'entrée x | Variable de sortie y | Cas de figure y=f(x,t) ou y=g(x(t)) | ||||||
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Global x(t)= |
Parties de x échantillonné |
Global xi + xp +x(0) |
Global y(t) |
Parties de y échantillonné |
Global yi + yp +y(0) | |||
xi impaire |
xp paire |
yi impaire |
yp paire | |||||
sin(t) | 0 | sin(t)+0+0 = sin(t) |
y(t)=sin(t-r) | cos(r)sint(t) = Ki*sint |
sin(r)(1-cos(t)-sin(r) = Kp*(1-cos(t))+y(0) |
cos(r)sint(t)+ sin(r)(1-cos(t))-sin(r) = cos(r)sint(t) - sin(r)cos(t))(t) |
retard simple
y(t)=x (t-r) | |
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Variable d'entrée x | Variable de sortie y | Cas de figure y=f(x,t) ou y=g(x(t)) | ||||||
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Global x(t)= |
Parties de x échantillonné |
Global xi + xp +x(0) |
Global y(t) |
Parties de y échantillonné |
Global yi + yp +y(0) | |||
xi impaire |
xp paire |
yi impaire |
yp paire | |||||
_ | retard simple
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