Recherche:Méthodes de détermination de la ou des relations possibles entre des phénomènes échantillonnés/Tableaux de correspondance

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Méthodes de détermination de la ou des relations possibles entre des phénomènes échantillonnés/Tableaux de correspondance
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Lors des analyses de y et de x, on détermine les xi, xp, yi, yp, donc la nature de ou des fonctions qui lient x et y ainsi que les coefficients Ki, Kp, les retards et les facteurs de proportionnalité.
Les premiers cas de figure sont évidents et peuvent être trouvés par d'autres moyens. Ils permettent de comprendre la méthode et les situations plus complexes.


Table de correspondance entre y et x
Analyse par Fonctions harmoniques
Variable d'entrée x Variable de sortie y Cas de figure
y=f(x,t)
ou
y=g(x(t))
Global
x(t)=
Parties de x
échantillonné
Global
xi + xp
+x(0)
Global
y(t)
Parties de y
échantillonné
Global
yi + yp
+y(0)
xi
impaire
xp
paire
yi
impaire
yp
paire
sin(t) 0 sin(t)+0+0
= sin(t)
y(t)=sin(t-r) cos(r)sint(t)
= Ki*sint
sin(r)(1-cos(t)-sin(r)
= Kp*(1-cos(t))+y(0)
cos(r)sint(t)+ sin(r)(1-cos(t))-sin(r)
= cos(r)sint(t) - sin(r)cos(t))(t)
retard simple
y(t)=x (t-r)

_
Table de correspondance entre y et x
Analyse par Fonctions puissances
Variable d'entrée x Variable de sortie y Cas de figure
y=f(x,t)
ou
y=g(x(t))
Global
x(t)=
Parties de x
échantillonné
Global
xi + xp
+x(0)
Global
y(t)
Parties de y
échantillonné
Global
yi + yp
+y(0)
xi
impaire
xp
paire
yi
impaire
yp
paire
_
retard simple

_
_